高低温冲击试验箱用于半导体生产线的大量元器件的筛选

高低温冲击试验箱用于半导体生产线的大量元器件的筛选

高低温冲击试验箱有完善的保护报警功能，当出现了短路、露电、工作室超温等情况，荧幕上即刻自动显示故障原因机排除方法，当发现输入电压不稳时，具有紧急停机装置，高低温冲击结构移动时间在10秒内。高程式记忆容量，可设定储存100组程式，最大循环设定9999cycles,每段时间最大设999Hrs59Mins.具有RS-232C通信介面装置，可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接（TIMER SINGAL RELAY）,使用便捷。

功能模块：此设备分为高温区、低温区及测试区三部分，采用独特的断热结构及蓄热、蓄冷效果，采用冷热风路切换方式导入试品中，做高低温冲击测试.采用原装韩国或者日制微电脑大型液晶（320*240dots）中英文显示控制系统。

高低温冲击试验箱的高低温冲击是什么？

如果一个器件、组件或将用于制造器件的材料循环重复地受到温度急剧变化（这种影响可以通过许多不同方式获得，例如重复地把一个器件从温度存在很大差异的设 备来回放入和取出，或在冷的环璄下断续地操作器件），它们会在工作特性方面发生变化或导致物理失效。高低温冲击试验箱提供了元器件急剧温度变化的条件，通过 控制这种变化来检测元器件及材料的试验设备。这种试验设备主要用于小型电子元器件的质量评估、试验及相关研究，例如用于半导体生产线的大量元器件的筛选。

通常把MIL或类似的标准作为高低温冲击试验的依据。

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